Langer E1 抗干擾開發系統 , 全國促銷 求購 產品說明 使用方法 庫存充足
本系統能對被測物施加突發干擾，再現被測物出現故障的現象；能采用不同的方式，向電子模塊直接注入突發性的電場干擾或磁場干擾，從而定位電路板上的電磁薄弱點，理解耦合機理，并完成設計修改。幫助工程師排除ESD和EFT問題
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E1抗干擾性開發系統是一套集成電路板開發過程中進行抗干擾分析的 EMC工具系統。采用E1抗干擾開發系統，能夠快速**地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點），使工程師開發人員能夠準確針對薄弱點設計恰當的 EMC措施，并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。
E1 檢測設備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細描述。
E1 組套包括一個脈沖群干擾和靜電放電干擾發生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。
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