| 半導體器件特性測量 | 1 、工作電壓：AC220V±10%50Hz 2 、測量精度： ≤5% 3 、外形尺寸：350×280×80nm 本儀器將傳統的“半導體特性測試儀 ”濃縮成測試卡 的形成，將其插入微機的擴展槽中，在軟件的支持下 實現對晶體三極管、場效應管、可控硅元件、二極管 等半導體器件快速測量，并可把結果存盤或打印。 本儀器還設計了將測量數據二次數學處理的軟件，便 得測量時不僅能在屏幕上顯示晶體管的輸出、輸入曲 線，并且能自動顯示不同電流下的電流放大倍數，跨 導，二極管的理想因子， βIc 曲線等等。（微機自 備） |
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