LET-2000D系列是力鈦科公司開發出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態參數分析系統。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的測試,LET-2000D有著較高的系統帶寬和測試精度,可以有效準確的測量出實際的器件參數。
硬件優勢>>>
■ 采用LECROY 12bit示波器,測試結果更準確
■ 高帶寬的電壓探測,能滿足SIC/GAN的測量要求
■ 可以滿足上/下管同時測試,避免頻繁連接探頭
■ 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
■ 器件驅動設計支持SIC/GAN器件
■ 可根據客戶需求定制
■ 可以增加器件的溫度特性測試
■ 硬件可以升級自動機械手
軟件特點>>>
■ 測量參數齊全:開關參數、反向恢復參數、短路參數、雪崩測試
■ 支持器件類型多:單管/模塊,MOSFET、IGBT
■ 離線數據分析:既可以在線測量,也可
■ 以記錄數據離線分析
■ 測試方式:單脈沖、多脈沖
■ 可靈活設置測試項目
■ 軟件具有較強的擴展能力
■ 測量項目及器件支持擴展
參數系統>>>
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名稱 |
說明 |
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帶寬 |
500 M Hz/1 GHz |
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采樣率 |
10 Gsa/S |
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系統電壓 |
DC—2000V/6000V |
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電壓輸出精度 |
±0.2%最?量程 |
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最大電流 |
300A—3000A |
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短路電流 |
2000A—10000A |
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測量精度 |
2%量程（典型值） |
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驅動電壓范圍 |
±20V |
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測量參數 |
Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等 |
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測量項? |
開關參數、反向恢復參數、短路參數、雪崩能量測試 |
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測量器件 |
單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD |
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脈寬 |
20ns-1000us. |
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脈沖數 |
單脈沖、2-5脈沖 |
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測量標準 |
IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173 |
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