X射線熒光鍍層測厚儀EDX-V 是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管X射線光學系統,對于微米級尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析,能進行高效、準確的測量。
性能優勢
1、結合鍍層行業微小樣品的檢測需求,專門研發適用于鍍層檢測的超近光路系統,減少能量過程損耗。搭載**的多導毛細管聚焦管,極大的提升了儀器的檢測性能,聚焦強度提升1000~10000倍,更高的檢測靈敏度和分析精度以及高計數率保證測試結果的**性和穩定性。
2、全景+微區雙相機設計,呈現全高清廣角視野,讓樣品觀察更全面;微米級別分辨率,更好的滿足超微產品的測試,讓測試更廣泛更便捷。
3、**的多導毛細管技術,信號強度比金屬準直系統高出幾個數量級。
4、多規格可選的多導毛細管,很好的滿足用戶不同測試需求。
5、高精度XYZ軸移動測試平臺,結合雙激光點位定位系統,可實現在樣品測試過程中的全自動化感受一鍵點擊,測試更省心。
產品應用領域
測量超微小部件和結構,如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導體行業中的功能性鍍層;
分析復雜的多鍍層系統;
全自動測量,如:用于質量控制領域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標準。
免責聲明：當前頁為 X射線熒光鍍層測厚儀EDX-V 天瑞儀器廠家 上照式 大平臺產品信息展示頁，該頁所展示的 X射線熒光鍍層測厚儀EDX-V 天瑞儀器廠家 上照式 大平臺產品信息及價格等相關信息均有企業自行發布與提供， X射線熒光鍍層測厚儀EDX-V 天瑞儀器廠家 上照式 大平臺產品真實性、準確性、合法性由店鋪所有企業完全負責。世界工廠網對此不承擔任何保證責任，亦不涉及用戶間因交易而產生的法律關系及法律糾紛，糾紛由會員自行協商解決。
友情提醒：世界工廠網僅作為用戶尋找交易對象，就貨物和服務的交易進行協商，以及獲取各類與貿易相關的服務信息的渠道。為避免產生購買風險，建議您在購買相關產品前務必確認供應商資質及產品質量。過低的價格、夸張的描述、私人銀行賬戶等都有可能是虛假信息，請您謹慎對待，謹防欺詐，對于任何付款行為請您慎重抉擇。
投訴方式：fawu@gongchang.com是處理侵權投訴的專用郵箱，在您的合法權益受到侵害時，請將您真實身份信息及受到侵權的初步證據發送到該郵箱，我們會在5個工作日內給您答復，感謝您對世界工廠網的關注與支持！
(c)2008-2025 世界工廠網V3.6 All Rights Reserved 豫ICP備2024066506號
