X射線熒光測厚儀EDX-T是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦**分析。能更好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。
應用領域
分析超薄鍍層,如鍍層≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等鍍層;
測量超小樣品,直徑≤0.1mm
印刷線路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及電鍍液分析
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
設計亮點
全新上照式設計,可適應更多異型微小樣品的測試。可變焦高精雙攝像頭,搭配距離補正系統,呈現全高清廣角視野,更好地滿足微小產品、臺階、深槽、沉孔樣品的測試需求。獨立的高精度伺服電機擴大XY平臺移動范圍,可多點編程、網格編程、矩陣編程,自動完成客戶多個產品及多個測試點的連續測量,大大提高測樣效率。自帶數據校正系統,保證測量數據的穩定性。
免責聲明：當前頁為 天瑞儀器X射線熒光測厚儀EDX-T 多準直孔自動切換產品信息展示頁，該頁所展示的 天瑞儀器X射線熒光測厚儀EDX-T 多準直孔自動切換產品信息及價格等相關信息均有企業自行發布與提供， 天瑞儀器X射線熒光測厚儀EDX-T 多準直孔自動切換產品真實性、準確性、合法性由店鋪所有企業完全負責。世界工廠網對此不承擔任何保證責任，亦不涉及用戶間因交易而產生的法律關系及法律糾紛，糾紛由會員自行協商解決。
友情提醒：世界工廠網僅作為用戶尋找交易對象，就貨物和服務的交易進行協商，以及獲取各類與貿易相關的服務信息的渠道。為避免產生購買風險，建議您在購買相關產品前務必確認供應商資質及產品質量。過低的價格、夸張的描述、私人銀行賬戶等都有可能是虛假信息，請您謹慎對待，謹防欺詐，對于任何付款行為請您慎重抉擇。
投訴方式：fawu@gongchang.com是處理侵權投訴的專用郵箱，在您的合法權益受到侵害時，請將您真實身份信息及受到侵權的初步證據發送到該郵箱，我們會在5個工作日內給您答復，感謝您對世界工廠網的關注與支持！
(c)2008-2025 世界工廠網V3.6 All Rights Reserved 豫ICP備2024066506號
