CT-6高低溫探針臺

**可用于12英寸以內樣品測試
采用密閉腔結構,屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
CINDBEST CT-6 | 6"~12" 高低溫探針臺測試系統
特點/應用
◆ **可用于12英寸以內樣品測試
◆ 采用密閉腔結構,屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
◆ 優化的腔體保溫結構可以極大的減少液氮消耗量
◆ 可升降調節適合加裝探針卡
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 結構模塊化設計,可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。
高低溫探針臺

◆ 臺體規格:
型號:CT-6/CT-8/CT-12
樣品臺尺寸:6英寸/8英寸/12英寸
水平旋轉:可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程:6英寸*6英寸/8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移動精度:10微米/1微米
樣品固定:真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環
針座平臺:U型針座平臺,最多可放置6~12個探針座
平臺升降:可快速升降10mm/可微調升降10mm
背電極測試:樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極
溫度范圍:負80°到正400°
溫控精度:0.01°/0.1°/1°
重量:約120千克/150千克
◆ 光學系統:
顯微鏡類型:單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率:16X-200X/20X-4000X
移動行程:水平方向繞立柱旋轉/XY軸移動4英寸,Z軸行程50.8mm
光源:外置LED環形光源/同軸光源
CCD:200萬像素/500萬像素/1200萬像素
◆ 定位器:
X-Y-Z移動行程:12mm*12mm*12mm
移動精度:10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式:磁力吸附/真空吸附
線纜:同軸線/三軸線
漏電精度:10pA/100fA/10fA
固定探針:彈簧固定/管狀固定
接頭類型:BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑:0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質:鎢鋼/鈹銅

◆ 可選附件
加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱、光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件、高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置、激光系統、探針卡夾具。
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