X射線熒光膜厚儀EDX2000A(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行快速對焦分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域電鍍行業(yè)、電子通訊、航天新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備汽車制造、磁性材料、貨品電鍍、高校及科研院所等非常高硬件配置采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能準確地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性,減少儀器故障率。高精度自動化的X、Y、Z軸的三維聯(lián)動,更準確快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的定位。
設(shè)計亮點上照式設(shè)計，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路，信號收集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng)，滿足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺，微小密集型可多點測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。軟件界面人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用更加放心
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