X射線光電子能譜分析(XPS測試)

X射線光電子能譜是分析物質表面化學性質的一項技術。X射線檢測技術(Radioaraphicesting，即RT)是利用射線(X射線

射線中子射線等)穿過物體時的吸收和散射的特性，檢測其內部結構不連續性的技術。XPS可測量材料中元表組成，經驗公

式元素化學態和電子態。用一束X射線激發固體表面，同時測量被分析材料表面1-10nm內發射出電子的動能，而得到XPS

譜。光電子譜記錄超過一定動能的電子。光電子譜中出現的譜峰為原子中一定特征能量電子的發射，光電子譜峰的能量和強度可用于定性和定量分析所有表面元毒(氣元毒除外)。

X射線光電子能譜分析(XPS測試)被廣泛應用范圍

無機材料和有機材料中，如合金、半導體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水、金屬、合金、半導體、有機物、無機物、薄膜、納米材料等

XPS主要能夠分析以下方面的內容:

1.元素的定性分析?？梢愿鶕茏V圖中出現的特征譜線的位置鑒定除H，He以外的所有元素。

2.元素的定量分析。根據能譜圖中光電子譜線強度(光電子峰的面積)反應原子的含量或相對濃度。

3.固體表面分析。包括表面的化學組成或元素組成，原子價態，表面能態分布，測定表面電子的電子云分布和能級結構等。

4.化合物的結構?？梢詫葘与娮咏Y合能的化學位移**測量，提供化學鍵和電荷分布方面的信息。

5分子生物學中的應用。如利用XPS鑒定維生素B12中的少量的Co。

6.樣品內部結構三維可視化

7.內部結構尺寸測量

8.不同組分結構二維/一維表征及形態學分析

9.內部缺陷/孔隙/梨紋表征及形態學統計，分析

10.纖維類樣品三維空間取向統計、分析

11.材料內部滲流模擬與分析計算

12.多孔材料壁厚分析

13顆粒之間夾雜物以及表面包事物體積計算

14.材料內部成分均勻性計算