材料的基本物理特性之一是其能按既定比例吸收或反射特定波段的輻射，吸收或反射能力與材料種類和厚度有關。 X 射線測厚系統正是應用了這一原理。射源的選擇和應用方式（傳輸和被反射）由被測材料的材質和應用需求來決定。穿透式用于測量金屬厚度。射線管和檢測器分別置于材料的兩邊。檢測器檢測到的放性隨厚度增加而減少。檢測到的放射性則由微處理被轉換成為電信號，再根據測量產品進行校準。軟件平臺采用微軟的WINDOWS平臺和ARM的人機界面兩套系統可供選擇，由于核心機架部分采用水冷散熱，所以完全滿足高溫環境的使用。C型架中固定有射源和檢測器。射源內有可產生射線的X射線管。檢測器固定在射源上方，由一個能檢測射源發散出的放射性的電離室，一個高壓電源和一個靜電放大器組成。電離電流與進入電離室的輻射成比例。所有置于射源和電離室之間空隙的材料都會以一定比例減弱輻射，而這個比例又與材料密度成比例。如果材料密度均勻，則隨著厚度的增加，材料對輻射的減弱作用就越強，電離電流就越小。
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