德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術,更加鞏固了其行業。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據***更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管的研發以及材料科學領域。臺階儀Dektak XT能實現:1、 使用溫度條件:10-30℃;
2、無可匹敵的性能,臺階高度重現性低于4埃3、Single-arch設計提供掃描穩定性4、**的“智能電子器件”設立了新低噪音基準5、新硬件配置使數據***時間縮短6、64-bit,Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度高了10倍7、頻率,操作簡易8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡易9、針尖自動校準系統10、布魯克(Bruker)以實惠的配置實現高的性能11、單傳感器設計,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍



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