Hysitron TS 77 Select 納米壓痕儀

可靠的定量表征

Hys代ron® TS 77 Selec產自動臺式納米力學和納米摩擦測試系統提供了同級別儀器中*高的測試性能，功能性和易用性?；Р剪斂?*的Triboscop鏟電容式傳感器技術，這套新的測試系統支持從納米到微米尺度的可靠的力學和摩擦學表征。 TS Select具有極高的性價比，提供眾多性能優異的測試模塊，包括定量納米壓痕、 動態納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和高分辨力學性能成像功能。

•HysitronTS SelectTesting Modes

納米壓痕

高精度力學表征

納米壓痕是表征局部微結構、界面＼表面微結構和薄   膜的彈性模噩、硬度 ＼ 蠕變、應力松弛和斷裂韌性的常見技術 。采用布魯克**的 Hysit ron T「iboScope 電容式傳感器技術，丁 S Select 支持納米到微米尺度定星可靠的力學 性能測量。

力學性能成像

快速數據***和高速成像

TS  Select 提供比傳統納米壓痕測試快180倍的高速測試能力。在寫秒兩次的納米壓痕測試速度下， 可以在幾分鐘內得到非均相材料的高分辨率力學性能圖像  。此外， 高 速測試可以快速***和統計分析大量測試數據， 從而提高則罩結果的可信度。

原位SPM成像

實現卓越的納米力學

布魯克原位掃描探針顯微技術( SPM ) 利用納米力學測試的壓頭掃描樣品表面從而實現表面形貌成像。同—尺度下的力學測試和形貌掃描保證了納米力學表征結果的卓越性 和可靠性。原位 SPM 成像可以實現納米尺度的**定位， 確保力學測試在材料上**的位置進行。

磨損測試

定量納米尺度耐磨性能

利用TS Select 的SPM 原位掃描成像技術 ， 可以**測噩磨損量和磨損率隨接觸力＼滑動速度和磨損次數的變化。得 益千寬泛的空間測噩范圍， TS  Select可以輕松實現局部微觀結構、界面和薄膜的摩擦性能測試。

TS Select 控制軟件

簡化的系統操作和數據分析