DektakXT桌面型探針式表面輪廓儀

布魯克DektakXT®臺階儀設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達4埃。這項測量性能的提高，達到了過去四十年Dektak®體系技術創新的頂峰，更加穩固了其行業中的**地位。不論應用于研發還是產品測量，在研究工作中的廣泛使用是的DektakXT地功能更強大，操作更簡便易行，檢測過程和數據***也更加完善。技術的突破也實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

探針式輪廓儀的黃金標準

DektakXT®探針式輪廓儀革命性的突破設計創新，實現了垂直高度重復性高達4埃，數據***能力提高了40%。這一里程碑的創新和突破，使得DektakXT實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

技術創新四十余載，不斷突破用攀高峰

Dektak品牌是首臺基于微處理器控制的輪廓儀，首臺實現微米測量的臺階儀，首臺可以達到3D測量的儀器，首臺個人電腦控制的輪廓儀，首臺全自動300mm臺階儀。現在，全新的DektakXT延續了這種開創性的風格，成為世界**臺采用具有具有單拱龍門式設計，配備全彩HD攝像機，并且利用64位同步數據處理模式完成*佳測量和操作效率的臺階儀。

提高測量和數據分析速度

首次采用獨特高速的直接驅動掃描樣品臺，DektakXT在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大縮短了每次掃描的間隔時間，將數據***處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用布魯克具有64位數據***同步分析的Vision64，可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度，并且可以加快數據濾波和多次掃描數據庫分析的速度。

提高操作的可重復性

使用單拱龍門結構設計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。DektakXT會把系統和環境噪音引起的測量誤差降到*低，能夠更穩定可靠的掃描高度小于10nm的臺階，獲得其形貌特征。