我們X射線熒光（XRF）團(tuán)隊(duì)的應(yīng)用科學(xué)家們出席了在瑞典哥德堡舉辦的年無(wú)損檢測(cè)歐洲研討會(huì)（ECNDT）。在研討會(huì)上，他們探討了一些包括篩檢玻璃制品和測(cè)量涂層厚度在內(nèi)的有趣的話題。

您可以查看下面的文件和演示文稿，以了解您錯(cuò)過(guò)的內(nèi)容。

使用手持式X射線熒光分析儀測(cè)量涂層的厚度

手持式X射線熒光（HHXRF）技術(shù)可用于測(cè)量涂層的厚度，與其他技術(shù)相比，這種技術(shù)在**度和便攜性方面占有優(yōu)勢(shì)。在較大的表面區(qū)域上進(jìn)行涂層分析，通常需要使用臺(tái)式儀器通過(guò)某些損壞性的操作程序來(lái)完成。手持式XRF技術(shù)克服了這個(gè)局限性，為用戶提供了一種無(wú)損涂層厚度檢測(cè)能力。

用戶通過(guò)分析儀用戶界面中內(nèi)置的校準(zhǔn)功能，可以非常方便地使用一種認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品，對(duì)*多3個(gè)涂層的材料進(jìn)行分析，并準(zhǔn)確地測(cè)量這些涂層的厚度。使用手持式XRF分析儀對(duì)涂層的厚度進(jìn)行測(cè)量，不需要考慮基底材料，而且可使用戶自由地分析含有從鈦（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉積性涂層。由于要分析的元素范圍很大，因此分析現(xiàn)場(chǎng)附近的實(shí)驗(yàn)室可以借助手持式XRF分析儀傳送的準(zhǔn)確結(jié)果，判斷所檢測(cè)的材料是否出現(xiàn)了腐蝕、磨損和涂層粘附等問題。

涂層分析的物理基礎(chǔ)是朗伯比爾吸收定律，根據(jù)這個(gè)定律，X射線在剛剛進(jìn)入樣品的第一個(gè)涂層時(shí)，強(qiáng)度**，但是隨著它在涂層中的傳播，強(qiáng)度會(huì)逐漸減小。在進(jìn)入第二個(gè)涂層時(shí)， X射線的強(qiáng)度已經(jīng)降低，因?yàn)槠洳糠謴?qiáng)度已經(jīng)被前一個(gè)涂層所吸收。隨著各個(gè)涂層對(duì)X射線呈指數(shù)的吸收，進(jìn)入到樣品中的X射線的強(qiáng)度將繼續(xù)減小，所吸收的量取決于樣品的物理特性。