我們專注于橫向干涉測量法，它是最敏感的光纖測量技術。因為測量是橫向執行（通過光纖的端口），所以它從本質上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區必須被去除，光纖本身仍然可以繼續傳輸測量中的光信號，同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被完全恢復。光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進行單波長、多波長的1D、2D測量，獲得任何類型光纖的折射率、應力和幾何形狀數據。
| 折射率精度 | ±0.0001 |
| 空間分辨率 | ~500 nm |
| 測量波長范圍 | 500 nm-1 μm |
| 光纖直徑 | 40 μm-400 μm |
| 光纖材料 | 石英，非石英，塑料 |
| 測量同心度誤差 | ±200 nm |
| 測量纖芯非圓度誤差 | ±0.4% |
| 可測光纖類型 | 單模, 多模, 微結構 (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包層泵浦, 大模面積, 彎曲損失, 高-Δ, 等. |
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