ITC57300動態測試儀替代品易恩IGBT動態參數測試
EN-2020A半導體器件動態參數測試系統
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系統概述 |
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基礎規格 |
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IGBT是廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的開關性能具有極其重要的實際意義。 EN-2020A半導體器件動態參數測試系統，該系統是針對IGBT器件的開關性特性及IGBT內部續流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統，適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。 |
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規 格：1800×800×800（mm） 質 量：155Kg 環境溫度：15～40℃ 相對濕度：小于80% 大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa 電網電壓：AC220V±10%無嚴重諧波 電網頻率：50Hz±1Hz |
參數/條件
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IGBT開通特性測試 |
IGBT關斷特性測試 |
測試氣動夾具 |
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測試參數 |
開通延遲 tdon |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
關斷時間tdoff |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
壓力： 5000PA的品牌空壓機供氣。 控溫范圍： 25℃-200℃ 控溫精度： ±1.0℃±1% 器件接觸： 20個探針的接觸矩陣
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上升時間 tr |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
下降時間tf |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
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開通能量 Eon |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
關斷能量Eoff |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ |
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測試條件 |
集電極電壓Vce |
50-3500V±5% 根據用戶要求定制 |
集電極電壓Vce |
50-3500V±5% 根據用戶要求定制 |
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集電極電流Ice |
50-1500V±5% 根據用戶要求定制 |
集電極電流Ice |
50-1500V±5% 根據用戶要求定制 |
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負載L |
20-1000uH |
L負載 |
20-1000uH |
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柵極電壓Vge |
±15V±3%±0.2V |
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短路測試Sct |
一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA |
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二極管反向恢復測試Drr |
反向恢復電流 / 反向時間 / 反向di / dt |
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