GDAT-A工頻介電常數及介質損耗測試儀
產品名稱：工頻介電常數及介質損耗測試儀
產品型號：GDAT-A

滿足標準：GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

一、介電常數介質損耗試驗儀概述

GDAT高頻Q表作為**一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內**的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項**技術：

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高**、幅度的高穩定。
計算機自動修正技術和測試回路**化 —使測試回路 殘余電感減至**，徹底** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
gdat高頻Q表的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了**的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具
，測量值更為**，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
一、介電常數介質損耗試驗儀概述
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至**，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為**。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
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技術參數：
測量范圍及誤差
??????????????在Cn＝100pF????R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）時_

????????????在Cn＝100pF????R4＝318.3（Ω）（即1K/π）時

Cx＝R4×Cn/R3
tgδ＝ω·Ｒ４·Ｃ４
高壓電源技術特性
電壓輸出：0～2500V/50Hz
高壓電流輸出：0～20mA
內置標準電容器
電容量的名義值為100pF
tgδ小于5×10^-5

GDAT型介質損耗測試裝置技術特性

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平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選 　　　　　
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
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電感：
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線圈號??? 測試頻率???Q值???分布電容p??????電感值?
?9????????100KHz?????98??????9.4??????????25mH
?8????????400KHz????138??????11.4???????4.87mH
?7????????400KHz???202??????16??????????0.99mH
?6??????????1MHz????196??????13?????????252μH
?5??????????2MHz????198??????8.7???????49.8μH
?4????????4.5MHz???231??????7????????????10μH
?3?????????12MHz?????193????6.9????????2.49μH
?2?????????12MHz?????229????6.4???????0.508μH
????????????
? 1??25MHz，50MHz??233，211???0.9??????0.125μH

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主要配置：
a.測試主機一臺；
b.電感9只；
c.夾具一 套
附表 電感組典型測試數據?

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