日置阻抗分析儀IM3570是一款對元器件電感、電容、電阻測量的專業儀器，1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查

LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量

基本精度±0.08%的高精度測量

適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量

分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

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HIOKI阻抗分析儀IM3570主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。

HIOKI阻抗分析儀IM3570基本參數

測量模式 LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量

測量參數 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

測量量程 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定）

顯示范圍 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示**值

θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）

Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

測量頻率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）

測量信號電平 V模式，CV模式（普通模式）

50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）

10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）

CC模式（普通模式）

10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）

10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）

輸出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

顯示 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF

測量時間 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）

測量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2

HIOKI阻抗分析儀IM3570其他功能 DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能

接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN

電源 AC90~264V，50/60Hz，**150VA

打印 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）

接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)

電源 AC90~264V，50/60Hz，**150VA

體積和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg

HIOKI阻抗分析儀IM3570附件 電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1

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