濟南千斗工業科技有限公司代理銷售的日本日置LCR測試儀IM3536具有測量頻率DC，4Hz~8MHz、測量時間：最快1ms、基本精度：±0.05% rdg、1mΩ以上的精度保證，可測量低阻、可內部發生DC偏壓測量的特點，我們提供全新原裝**保證******售后服務。

日置LCR測試儀IM3536主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

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日置LCR測試儀IM3536基本參數

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測量模式 LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）

測量參數Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D(tanδ), σ, ε

日置LCR測試儀IM3536測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）

顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999%)等

基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）

測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)

測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (**50 mA)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (**10 mA)

[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (**100 mA)

[CC模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (**5 V)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (**1 V)

[CC模式]的[低Z高精度模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (**1 V)

[直流電阻測量]: 1 V固定

DC偏壓 發生范圍：DC電壓0~2.50 V(低Z高精度模式時0 ~1 V)

輸出阻抗 通常模式：100 Ω,低Z高精度模式: 10 Ω

顯示 彩色TFT5.7英寸，觸摸屏

日置LCR測試儀IM3536功能 比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能

接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出

日置HIOKI電學測試產品是本公司強項品牌價格非常有優勢歡迎詢價

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