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日置阻抗分析儀IM7583高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms

測量頻率：1MHz~600MHz

測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）

基本精度：±0.65% rdg.

緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小

豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）

使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

日置IM7583阻抗分析儀主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。

基本參數

日置IM7583阻抗分析儀 ??（精度保證時間1年，調整后精度保證時間1年）

測量模式 LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量

測量參數 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ

顯示范圍 Z: 0.00m~9.99999 GΩ/ Rs, Rp, X:±(0.00 m~9.99999 GΩ)

Ls, Lp: ±(0.00000 n~9.99999 GH) / Q:±(0.00~9999.99)

θ:±(0.000°~999.999°), Cs, Cp:±(0.00000 p~9.99999 GF)

D: ±(0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)

G, B: ±(0.000 n~9.99999 GS),Δ%:±(0.000 %~999.999 %)

基本精度 Z: ±0.65 % rdg.θ:±0.38°

測量頻率 1 MHz~600 MHz (設置分辨率100kHz)

測量信號電平 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm

電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms

電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms

輸出阻抗 50 Ω(10 MHz時)

顯示 彩色TFT8.4英寸、觸屏

測量時間 最快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）

功能 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償

接口 EXT I/O (處理器), USB通訊,U盤, LAN

RS-232C (選件), GP-IB (選件)

電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

體積和重量 主機:?215W ×200H×348D mm, 8.0 kg

測試頭: 90W×64H×24D mm, 300 g

日置IM7583阻抗分析儀附件 電源線 ×1,測試頭×1,連接線 ×1,使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書)×1

日置HIOKI電學測試產品是本公司強項品牌價格非常有優勢歡迎詢價

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