日置C測試儀3504-60適合用于封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

高速測量2ms

日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60

能根據C和D（損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷

對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能

3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試

3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試

查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60

基本參數

測量參數 Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）

測量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000

基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg.±10 dgt., D:±0.0016

※測定精度=基本精度×B×C×D×E, B～E為各系數

測量頻率 120Hz, 1kHz

測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (**3504-60)，500 mV, 1 V

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測量范圍:

CV 100mV:～170μF量程(測量頻率1kHz),～1.45mF量程(測量頻率120Hz)

CV 500mV: ～170μF量程(測量頻率1kHz),～1.45mF量程(測量頻率120Hz)

CV 1V: ～70μF量程(測量頻率1kHz),～700μF量程(測量頻率120Hz)

輸出電阻 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）

顯示 發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定）

測量時間 典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST）

※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同

功能 BIN分類測量(3504-40除外),觸發同步輸出,測量條件記憶,測量值的比較功能,平均值功能,Low-C拒絕功能,振動功能,控制用輸出輸入(EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外)

電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz,**110VA

體積及重量 260W ×100H×220Dmm, 3.8kg

附件 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1

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(日置C測試儀3504-60|HIOKI日置電容測試儀3504-60主機不能單獨使用，測量時需要選用測試冶具或探頭)

日置HIOKI電學測試產品是本公司強項品牌價格非常有優勢歡迎詢價

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