瑞士博勢(shì)Proceq?Equotip?550?Leeb硬度檢測(cè)儀
產(chǎn)品名稱：硬度檢測(cè)儀
規(guī)格型號(hào)：Equotip?550?Leeb
品牌廠家：瑞士博勢(shì)Proceq
瑞士博勢(shì)Proceq?Equotip?550?Leeb硬度檢測(cè)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
Equotip?550?是便攜式硬度檢測(cè)中功能最齊全的一體化解決方案。?里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，最適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。
結(jié)合?Equotip?Portable?Rockwell?探頭，Equotip?550?可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。?這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將?Leeb?關(guān)聯(lián)至?Portable?Rockwell?的實(shí)際壓痕硬度值。?
新一代?Equotip?觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。?改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)А⒆詣?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。?此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。
全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行**質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。
迄今為止，Proceq?的?Equotip?已經(jīng)成為全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。?Equotip?裝置完全滿足眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。
根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度?±?4?HL（硬度為?800?HL?時(shí)，準(zhǔn)確度為?0.5%）
測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。
每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和**的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。
Equotip?550?Touchscreen?Unit
模塊化概念：?利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法：?在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將?Leeb?關(guān)聯(lián)至?Portable?Rockwell?的實(shí)際壓痕硬度值
引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量**度
自動(dòng)驗(yàn)證：?根據(jù)?ISO?16859?和?ASTM?A956?逐步驗(yàn)證
互動(dòng)指南：?通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取最相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線：?直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
自定義報(bào)告：?模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
自動(dòng)選項(xiàng)：?將?NDT?自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境?(IP?54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時(shí)長(zhǎng)?>?8h
8?GB?閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：?探頭連接器、USB?主機(jī)、USB?裝置和以太網(wǎng)
通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保障投資
里氏回彈硬度檢測(cè)主要用于金屬測(cè)量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測(cè)
最合適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè)
最合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測(cè)場(chǎng)地
Proceq?提供一些附件，例如一個(gè)測(cè)量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測(cè)試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動(dòng)硬度測(cè)量
瑞士博勢(shì)Proceq?Equotip?550?Leeb硬度檢測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM?A956?/?E140?/?A370
ISO?EN?16859
DIN?50156
GB/T?17394
**/T?9378
準(zhǔn)則
ASME?CRTD-91
DGZfP?Guideline?MC?1
VDI?/?VDE?Guideline?2616?Paper?1
Nordtest?Technical?Reports?99.12,?99.13,?99.36
瑞士博勢(shì)Proceq?Equotip?550?Leeb硬度檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)： |
顯示屏 | 7”?彩色顯示屏?800?x?480?像素 |
內(nèi)存 | 內(nèi)置?8?GB?閃存
（可存儲(chǔ)多達(dá)?1000000?個(gè)測(cè)量值） |
區(qū)域設(shè)置 | 公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區(qū) |
電池 | 鋰聚合物，3.6?V、14.0?Ah |
電池使用時(shí)長(zhǎng) | >?8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下） |
電源輸入 | 12?V?+/-25?%?/?1.5?A |
重量（顯示裝置） | 大約?1525?g（含電池） |
尺寸 | 250?x?162?x?62?mm |
**海拔 | 2500?mm?海拔高度 |
濕度 | <?95?%RH，非冷凝 |
操作溫度 | 0°C?至?30°C（32?至?86°F）
（正在充電且儀器正在運(yùn)行）
0°C?至?40°C（32?至?104°F）
（正在充電且儀器關(guān)閉）
-10°C?至?50°C（14?至?122°F）
（未充電） |
環(huán)境 | 適合室內(nèi)與室外使用 |
IP?等級(jí) | IP?54 |
污染等級(jí) | 2 |
安裝類別 | 2 |
Equotip?Leeb?沖擊裝置:
|
測(cè)量范圍 | 1-999?HL |
測(cè)量精度 | ±?4?HL（800?HL?時(shí)為?0.5?%） |
分辨率 | 1?HL；1?HV；1?HB；0.1?HRA；0.1?HRB；
0.1?HRC；0.1?HS；1?MPa?(N/mm2) |
沖擊方向 | 自動(dòng)補(bǔ)償（DL?探頭除外） |
沖擊能量 | D、DC、E、S?探頭為?11.5?Nmm DL?探頭為?11.1?Nmm C?探頭為?3.0?Nmm G?探頭為?90.0?Nmm |
沖擊體質(zhì)量 | D、DC、E、S?探頭為?5.45?克（0.2?盎司） DL?探頭為?7.25?克（0.26?盎司） C?探頭為?3.10?克（0.11?盎司） G?探頭為?20.0?克（0.71?盎司） |
球壓頭 | C、D、DC?探頭為碳化鎢，直徑?3.0?毫米（0.12?英寸）? DL?探頭為碳化鎢，直徑?2.78?毫米
（0.11?英寸）? G?探頭為碳化鎢，直徑?5.0?毫米（0.2?英寸） S?探頭為陶瓷，直徑?3.0?毫米（0.12?英寸） E?探頭為多晶金剛石，直徑
?3.0?毫米（0.12?英寸） |
操作溫度 | –10?C?至?50?C（14?至?122°F） |
保修
電子部件的保修期統(tǒng)一為?2?年
可選擇最多3年時(shí)間的有償續(xù)保修
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